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HAST高加速应力筛选试验箱

HAST高加速应力筛选试验箱

商品详情

性能特点

技术参数

应用场景:


HAST加速老化寿命试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。


测试目的:


HAST加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。主要适用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。与PCT不同的是,PCT主要用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的耐厌性,气密性。



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